Д. Б. Демин, А. И. Клеев, А. Г. Кюркчан, “Анализ рассеяния на тонком диэлектрическом цилиндре при помощи метода диаграммных уравнений”, Оптика и спектроскопия, 2020, том 128, выпуск 5,страницы 631

Физическая оптика

Анализ рассеяния на тонком диэлектрическом цилиндре при помощи метода диаграммных уравнений

Д. Б. Демин^a, А. И. Клеев^b, А. Г. Кюркчан^acd

^a Московский технический университет связи и информатики
^b Институт физических проблем им. П. Л. Капицы РАН, г. Москва
^c Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН
^d Центральный научно-исследовательский институт связи, г. Москва

Аннотация: Развита методика приближенного расчета характеристик рассеяния, основанная на использовании метода диаграммных уравнений (МДУ). Получены явные формулы для интегральных характеристик рассеяния, применимые для тонких диэлектрических цилиндров довольно произвольного поперечного сечения. Применимость полученных соотношений проанализирована на примерах рассеяния на эллиптическом цилиндре, на цилиндре, поперечное сечение которого имеет форму суперэллипса, многоугольника и многолистника. Как показывают приведенные результаты, полученные приближенные соотношения обладают достаточной точностью в широком диапазоне параметров задачи.

Ключевые слова: рассеяние света на малых частицах, приближение Релея, метод диаграммных уравнений, рассеяние электромагнитных волн, численные методы теории дифракции.

Поступила в редакцию: 20.12.2019
Исправленный вариант: 17.01.2020
Принята в печать: 20.01.2020

DOI: 10.21883/OS.2020.05.49322.343-19