Аннотация:
На основе инфракрасного (ИК) фурье-спектрометра реализован метод, позволяющий проводить измерения ИК фотолюминесценции с высокой скважностью импульсов накачки, что снижает неконтролируемый нагрев полупроводниковых структур возбуждающим лазером. Метод применен для регистрации спектров ИК фотолюминесценции тестовых узкозонных низкоразмерных гетероструктур в диапазоне длин волн 1–5 $\mu$m. Определено, что при высоких скважностях опорного импульса (больше 20) развиваемый метод стробируемого интегрирования имеет лучшее отношение сигнал-шум в измеряемых спектрах по сравнению с традиционно используемым методом синхронного детектирования.