RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Оптика и спектроскопия // Архив

Оптика и спектроскопия, 2019, том 127, выпуск 3, страницы 396–404 (Mi os604)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Спектроскопия и физика атомов и молекул

Диссоциативная рекомбинация молекулярных ионов Ne$_{2}^{+}$ с электронами. Заселение атомов конфигурации $2p^{5}4p$ в распадающейся плазме

С. В. Гордеев, В. А. Иванов, Ю. Э. Скобло

Санкт-Петербургский государственный университет

Аннотация: Методом кинетической спектроскопии исследована распадающаяся неоновая плазма. Условия эксперимента: давление неона 0.2–152 Torr, плотность электронов в начальной стадии распада $[e]\le$ 5 $\cdot$ 10$^{10}$ cm$^{-3}$. Плазма создавалась импульсным барьерным разрядом с электродами на внешней поверхности цилиндрической стеклянной трубки. Частота разряда 40–160 Hz. На основании сравнительного анализа зависимостей интенсивностей спектральных линий от времени и температуры электронов в послесвечении показано, что в плане механизмов заселения уровни $2p^{5}4p$ отчетливо разделяются на две группы. Нижние уровни: от $3p_{10}$ до $3p_{3}$ (обозначения по Пашену) связаны с диссоциативной рекомбинацией молекулярных ионов Ne$_{2}^{+}$ с электронами и вплоть до давлений 0.6 Torr излучаемые ими линии вели себя тождественно линиям переходов $2p^{5}3s\leftarrow 2p^{5}3p$ и $2p^{5}3p\leftarrow 2p^{5}3d$. Кинетика верхних уровней ($3p_{5}$, $3p_{2}$, $3p_{4}$ и $3p_{1}$) имела более сложный характер, а при малых давлениях населенности всех уровней $2p^{5}4p$ оказались связанными с ударно-радиационной рекомбинацией ионов Ne$^{+}$. Обсуждены существенные различия в зависимостях относительных населенностей $3d$- и $4p$-уровней от давления неона.

Ключевые слова: молекулярные ионы, диссоциативная рекомбинация, распадающаяся плазма, элементарные процессы, константа скорости.

Поступила в редакцию: 14.03.2019
Исправленный вариант: 14.03.2019
Принята в печать: 23.04.2019

DOI: 10.21883/OS.2019.09.48190.106-19


 Англоязычная версия: Optics and Spectroscopy, 2019, 127:3, 418–427

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024