Г. Г. Левин, В. Л. Минаев, К. Н. Миньков, М. М. Ермаков, А. А. Самойленко, “Исследование внутренней структуры микрорезонаторов методом оптической томографии”, Оптика и спектроскопия, 2019, том 126, выпуск 3,страницы 305

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Физическая оптика

Исследование внутренней структуры микрорезонаторов методом оптической томографии

Г. Г. Левин^a, В. Л. Минаев^a, К. Н. Миньков^ab, М. М. Ермаков^a, А. А. Самойленко^a

^a Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, г. Москва
^b Московский институт электроники и математики им. А. Н. Тихонова – Национальный исследовательский университет "Высшая школа экономики"

Аннотация: Разработан микроскоп, который позволяет исследовать внутренние неоднородности показателя преломления оптических диэлектрических микрорезонаторов методом оптической томографии. Экспериментально исследовано влияние внутренних неоднородностей показателя преломления оптических диэлектрических микрорезонаторов, изготовленных методом термообработки, на их добротность.

DOI: 10.21883/OS.2019.03.47371.148-18