Применение вейвлет-преобразований к анализу компонентов $2D$-пика рамановского спектра трех- и четырехслойного графена

Предложен новый подход к анализу компонент $2D$-пика рамановского спектра мультислойного графена, основанный на применении вейвлетов. В результате применения непрерывного вейвлет-преобразования визуализируются компоненты (подпики) $2D$-пика рамановского спектра, определяются их число и частоты. Обнаружено, что для двухслойного и трехслойного графена с берналовской упаковкой (ABA) пик полосы $2D$ рамановского спектра состоит из четырех и пяти компонент, соответственно. В случае четырехслойного графена с ромбоэдрической упаковкой (ABC) $2D$-пик содержит пять компонент. Число детектируемых компонент и их частоты совпадают с экспериментальными данными.