Аннотация:
На основе теоретического метода исследования отражения плоской электромагнитной волны от плоскослоистой многопленочной структуры с однородными пленками рассмотрены дифракционные явления, связанные с ограниченным размером апертуры падающей волны. Предложенная теория применяется к анализу чувствительности сенсоров на поверхностных волнах.
Список цитирования
