Математические основы надежности вычислительных и управляющих систем

Применение ненадёжных тестов для самодиагностики модульных вычислительных систем при кратных отказах

Ю. К. Димитриев^a, А. Ф. Задорожный<sup>b

a</sup> Институт физики полупроводников СО РАН, г. Новосибирск
^b Новосибирский архитектурно-строительный университет, г. Новосибирск

УДК: 681.3.012+681.3-192