Аннотация:
Рассматривается системное диагностирование в присутствии неисправностей с кратностью не более $t$. Анализируются условия, при которых состояние каждого модуля системы определяется только по исходам тестирования модулей, имеющих с ним физические связи (локальная диагностируемость). Показана эффективность локальной $t$-диагностируемости системы при использовании избыточности по числу исходов тестирования, участвующих в сопоставительном анализе.
Ключевые слова:мультипроцессорные вычислительные системы, системная локальная диагностика, теоретико-графовая модель.