Аннотация:
Получены экспоненциальные нижние оценки длин следующих тестов:
1) полных диагностических тестов при однотипных и произвольных константных неисправностях на входах схем и 2) полных диагностических тестов для схем из функциональных элементов в некоторых базисах при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.
Ключевые слова:схема из функциональных элементов, неисправность, полный диагностический тест, тест для входов схем.
Полный текст:
PDF файл (659 kB)