RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Прикладная дискретная математика // Архив

ПДМ, 2016, номер 4(34), страницы 110–127 (Mi pdm565)

Дискретные модели реальных процессов

Дискретное стохастическое моделирование рекомбинации электронов и дырок в 2D- и 3D-неоднородных полупроводниках

К. К. Сабельфельд, А. Е. Киреева

Институт вычислительной математики и математической геофизики Сибирского отделения РАН, г. Новосибирск, Россия

Аннотация: Представлены клеточно-автоматные стохастические модели рекомбинации электронов и дырок в неоднородном полупроводнике в двумерном и трёхмерном случаях. Исследована кинетика процесса рекомбинации электронов и дырок в режимах чистой диффузии, диффузии с туннелированием и диффузии частиц при наличии рекомбинационных центров. Изучен характер электронно-дырочных пространственных корреляций, полученных с помощью клеточно-автоматной модели, и связанного с этим формирования сегрегации в 2D- и 3D-полупроводниках. Путём численного моделирования вычислены и исследованы основные характеристики процесса рекомбинации: плотности частиц и интенсивность фотолюминесценции. Кроме того, проанализирована зависимость времени выполнения параллельных программ, реализующих клеточно-автоматные модели рекомбинации в двумерном и трёхмерном случаях, от значений таких модельных параметров, как начальная плотность электронно-дырочных пар и размер моделируемой области.

Ключевые слова: рекомбинация, полупроводник, диффузия, туннелирование, стохастическое моделирование, клеточный автомат.

УДК: 51.73, 519.245

DOI: 10.17223/20710410/34/9



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024