RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Прикладная дискретная математика // Архив

ПДМ, 2017, номер 38, страницы 66–88 (Mi pdm602)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Математические основы надежности вычислительных и управляющих систем

Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе “конъюнкция-отрицание”

К. А. Попков

Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, г. Москва, Россия

Аннотация: Рассматривается задача синтеза неизбыточных схем из функциональных элементов, реализующих булевы функции от $n$ переменных и допускающих короткие единичные проверяющие тесты относительно однотипных константных неисправностей на выходах элементов, в базисе $\{\&,\neg\}$ и схожих базисах. Для каждой булевой функции, допускающей реализацию неизбыточной схемой, найдено минимально возможное значение длины такого теста. В частности, доказано, что оно не превосходит трёх.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, константная неисправность, единичный проверяющий тест.

УДК: 519.718.7

DOI: 10.17223/20710410/38/5



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024