RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Прикладная дискретная математика // Архив

ПДМ, 2019, номер 43, страницы 78–100 (Mi pdm654)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Математические основы надежности вычислительных и управляющих систем

Синтез легкотестируемых схем при произвольных константных неисправностях на входах и выходах элементов

К. А. Попков

Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, г. Москва, Россия

Аннотация: Доказаны следующие утверждения: для любого натурального $k$ существует базис из булевых функций от не более чем $2k+2$ переменных (от не более чем $4k+2$ переменных), в котором любую булеву функцию, кроме константы $1$, можно реализовать схемой из функциональных элементов, неизбыточной и допускающей проверяющий тест длины не более $3$ (соответственно, диагностический тест длины не более $4$) относительно не более $k$ произвольных константных неисправностей на входах и выходах элементов. Показано, что при рассмотрении только произвольных константных неисправностей на входах элементов указанные оценки длин тестов можно понизить до $2$.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, произвольная константная неисправность, проверяющий тест, диагностический тест.

УДК: 519.718.7

DOI: 10.17223/20710410/43/6



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024