RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Прикладная дискретная математика // Архив

ПДМ, 2023, номер 62, страницы 71–82 (Mi pdm821)

Математические основы надежности вычислительных и управляющих систем

Короткие проверяющие тесты для контактных схем при произвольных слабо связных неисправностях контактов

К. А. Попков

Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, г. Москва, Россия

Аннотация: Доказано, что для любого натурального $k$ любую булеву функцию можно реализовать двухполюсной контактной схемой, $k$-неизбыточной и допускающей $k$-проверяющий тест длины не более $3$ относительно произвольных связных неисправностей контактов в группах, где каждая группа состоит из одного замыкающего и одного размыкающего контакта. Установлено, что если булева функция не является самодвойственной, то оценку можно понизить до $2$.

Ключевые слова: контактная схема, связные неисправности контактов, проверяющий тест, булева функция.

УДК: 519.718.7

DOI: 10.17223/20710410/62/6



© МИАН, 2024