Structural properties of $\mathrm{Pb}_{1-x}\mathrm{Sn}_x\mathrm{Te}$ thin films prepared by the “hot wall” method

Исследованы кристаллическая микроструктура, химический состав и морфология тонких пленок $\mathrm{Pb}_{1-x}\mathrm{Sn}_x\mathrm{Te}$ ($0,05\leqslant x\leqslant0,80$), полученных на стеклянных подложках методом «горячей стенки». Рентгеноструктурные исследования показали, что пленки были однофазными и имели кубическую структуру. Постоянная решетки пленок в зависимости от состава изменялась по закону Вегарда. Полученные пленки были гомогенными с воспроизводимым составом. Микроструктура пленок состояла из плотноупакованных зерен размером $0,3$–$4,0$ мкм, выращенных перпендикулярно плоскости подложки.