В. В. Сидский, А. В. Семченко, А. Г. Рыбаков, В. В. Колос, А. С. Турцевич, “Влияние температуры отжига и типа примеси на размер наночастиц в пленках $\mathrm{SrBi_2(Ta_xMe_{1-x})_2O_9}$”, ПФМТ, 2014, выпуск 3(20),страницы 37

ФИЗИКА

Влияние температуры отжига и типа примеси на размер наночастиц в пленках $\mathrm{SrBi_2(Ta_xMe_{1-x})_2O_9}$

В. В. Сидский^a, А. В. Семченко^a, А. Г. Рыбаков^a, В. В. Колос^b, А. С. Турцевич^b

^a Гомельский государственный университет им. Ф. Скорины, Гомель, Беларусь
^b ОАО «ИНТЕГРАЛ», Минск, Беларусь

Аннотация: В работе приведены данные по установлению влияния примеси $\mathrm{Nb}$, $\mathrm{La}$ и температуры отжига на структурные характеристики слоёв $\mathrm{SrBi_2(Ta_xMe_{1-x})_2O_9}$. В качестве методов исследования использовались атомно-силовая микроскопия и метод дифракции рентгеновских лучей.

Ключевые слова: золь-гель метод, сегнетоэлектрик, золь, термообработка, SBT-плёнка, перовскит, метод рентгеноструктурного анализа, метод атомно-силовой микроскопии.

УДК: 546.3

Поступила в редакцию: 08.07.2014