В. В. Сидский, А. В. Семченко, В. В. Колос, А. Н. Петлицкий, В. А. Солодуха, Н. С. Ковальчук, “Влияние условий обработки на структуру и сегнетоэлектрические свойства SBTN-плёнок, полученных золь-гель методом”, ПФМТ, 2017, выпуск 1(30),страницы 17

Эта публикация цитируется в 1 статье

ФИЗИКА

Влияние условий обработки на структуру и сегнетоэлектрические свойства SBTN-плёнок, полученных золь-гель методом

В. В. Сидский^a, А. В. Семченко^a, В. В. Колос^b, А. Н. Петлицкий^b, В. А. Солодуха^b, Н. С. Ковальчук^b

^a Гомельский государственный университет им. Ф. Скорины
^b ОАО «ИНТЕГРАЛ», Минск

Аннотация: Представлены исследования восстановительного и кристаллизационного отжига на сегнетоэлектрические свойства SBTN-пленок при массовой концентрации ниобия 10–50 масс. %, полученных золь-гель методом. Проведено исследование влияния восстановительного отжига на содержание кислорода в сегнетоэлектрической плёнке SBTN с учетом массовой концентрации ниобия.

Ключевые слова: сегнетоэлектрики, энергонезависимая память, золь-гель метод, структура перовскита, кристаллизационный и восстановительный отжиг, конденсаторный слой, дефекты, остаточная поляризация, SBTN-пленка.

УДК: 661.862

Поступила в редакцию: 20.02.2017