Аннотация:
Исследовано влияние отжига и присутствия буферного слоя Pd на изменение структуры границ раздела и кристаллической
структуры многослойных тонких пленок Co/Pd, осажденных методом термического распыления c толщинами
слоев Co ($t_{\mathrm{Co}} = 0,2$–$0,4$ нм) и Pd ($t_{\mathrm{Pd}} = 0,6$–$1,0$ нм), при которых ожидается максимальная перпендикулярная магнитная
анизотропия.
Ключевые слова:тонкие пленки Co/Pd, перпендикулярная магнитная анизотропия, интерфейсы многослойных тонких пленок, кристаллическая структура тонких плёнок, рентгеновская рефлектометрия, рентгеноструктурный анализ тонких пленок, рентгеноструктурный анализ тонких пленок с наклоном вектора дифракции относительно нормали к поверхности.