RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1985, том 19, выпуск 2, страница 348 (Mi phts1095)

Краткие сообщения

Исследование сколотой поверхности кремния методами СВЧ и оптического отражения

А. Н. Белоконов, А. А. Галаев, В. А. Миляев, В. А. Никитин, Ю. Н. Пархоменко, А. В. Ширков




© МИАН, 2025