RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1985, том 19, выпуск 8, страницы 1382–1385 (Mi phts1340)

Влияние последовательного сопротивления диода на нестационарные емкостные измерения параметров глубоких уровней

Е. В. Астрова, А. А. Лебедев, А. А. Лебедев


Аннотация: Показано, что при сопротивлении базы диода ${r\gtrsim(\omega C_{\text{д}})^{-1}}$ ($\omega$ — круговая частота измерительного сигнала, $C_{\text{д}}$ — емкость $p{-}n$-перехода), сигнал DLTS $\Delta C(T)$ уменьшается и может изменить знак. Рассмотрены условия наблюдения указанного эффекта. Приведены расчетные и экспериментальные зависимости с ${\Delta C(T)< 0}$ во всей или части области изменения $T$.



© МИАН, 2025