RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1984, том 18, выпуск 3, страницы 475–478 (Mi phts1655)

Исследование коэффициента поглощения в $n$-PbTe, легированном бором

А. Н. Вейс, Р. Р. Яфаев

Ленинградский политехнический институт им. М. И. Калинина

Аннотация: Исследованы спектральные зависимости коэффициента поглощения $\alpha (h\omega)$ в $n$-РЬТе<В> при 300 К. На фоне края основного поглощения обнаружены полосы примесного поглощения, связываемые с электронными переходами между зоной проводимости и узкой примесной полосой, расположенной выше ее дна. Определена энергия примесной полосы $E_0=0.42\div 0.45$ эВ. В длинноволновой области спектров $\alpha (h\omega)$ выявлены полосы дополнительного поглощения, обладающие резкой красной границей, появление которых обусловлено оптической активацией уровня собственных дефектов, расположенного в запрещенной зоне. Определена энергия уровня $E_i =-0.055\pm 0.005$ эВ. Путем сопоставления результатов для РbТе, легированного Ga, Аl, В и собственными дефектами, обусловленными отклонением от стехиометрии, высказаны предположения о его природе.

УДК: 621.315.592

Поступила в редакцию: 29.08.1983
Принята в печать: 15.10.1983



© МИАН, 2024