RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1984, том 18, выпуск 5, страницы 835–839 (Mi phts1745)

Поведение свободных носителей заряда при межзонном поглощении мощных коротких импульсов света

С. Е. Кумеков, В. И. Перель

Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе АН СССР, г. Ленинград

Аннотация: Теоретически исследовано поведение фотовозбужденных носителей в полупроводнике за время действия импульса, длительность которого меньше времени рекомбинации. В начальной стадии импульса за счет процессов релаксации устанавливается термодинамически равновесное состояние системы, характеризуемое фермиевским распределением носителей и являющееся состоянием насыщения. На последующей стадии состояние системы описывается термодинамическими параметрами. Это описание проводится на основе представления о квазичастицах Галицкого–Гореславского–Елесина. Вычислена поглощенная в импульсе энергия поля. Рассмотрено два случая, когда взаимодействием квазичастиц с решеткой за время импульса можно пренебречь и когда температура квазичастиц все время равна температуре решетки.

УДК: 621.315.592

Поступила в редакцию: 30.11.1982
Принята в печать: 09.12.1983



© МИАН, 2025