RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1990, том 24, выпуск 9, страницы 1689–1691 (Mi phts4018)

Краткие сообщения

Глубокие уровни дефектов, возникающих в структурах Si$-$Pt$_{a}$Si$_{b}$ в результате воздействия импульсной фотонной обработки

С. С. Глебов, В. В. Егоров, Ю. А. Капустин, Б. М. Колокольников, А. А. Свешников




© МИАН, 2025