Физика и техника полупроводников,
1990, том 24, выпуск 9, страницы 1689–1691
(Mi phts4018)
|
Краткие сообщения
Глубокие уровни дефектов, возникающих в структурах
Si$-$Pt$_{a}$Si$_{b}$ в результате воздействия импульсной фотонной обработки
С. С. Глебов, В. В. Егоров, Ю. А. Капустин, Б. М. Колокольников, А. А. Свешников
© , 2025