RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 11, страницы 1068–1076 (Mi phts4943)

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Система локализованных экситонов на кислородных комплексах в CdS

Н. К. Морозоваa, И. Н. Мирошниковаab

a Национальный исследовательский университет «Московский энергетический институт»
b Институт нанотехнологий микроэлектроники РАН, Москва, Россия

Аннотация: Интенсивное свечение CdS в голубой и зеленой областях спектра широко используется во всех областях оптоэлектроники. Приведены результаты исследования оптических свойств CdS на базе теории антипересекающихся зон с привлечением более широких исходных данных к анализу результатов. В зависимости от условий роста учтено присутствие и изменение концентрации кислорода и собственных точечных дефектов, определяющих состав кристаллов. Введены представления о неравномерном распределении изоэлектронных кислородных центров в объеме CdS вследствие преимущественной сегрегации их на компенсирующих дефектах упаковки. Для анализа экспериментальных данных использовались возможности построения зонных моделей, которые объединяют обширную и разностороннюю информацию о конкретных образцах. Представлена модель мультизоны CdS$\cdot$O с дефектами упаковки, определяющая спектр зеленого краевого излучения. Дано объяснение природы краевого излучения сульфида кадмия как экситонов, локализованных на кислородных комплексах. Показано, что присутствие изоэлектронных кислородных центров проявляется в электрофизических свойствах кристаллов. Даны рекомендации по диагностике кристаллов, пригодных для создания стабильных в эксплуатации люминесцирующих систем или лазеров.

Ключевые слова: изоэлектронные центры, теория антипересекающихся зон, локализованный экситон, дефекты упаковки, точечные дефекты, стимулированное излучение.

Поступила в редакцию: 14.05.2021
Исправленный вариант: 15.06.2021
Принята в печать: 15.06.2021

DOI: 10.21883/FTP.2021.11.51562.9650



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024