RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 10, страницы 928–931 (Mi phts4965)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Спектроскопия, взаимодействие с излучениями

Влияние дополнительной имплантации ионов кислорода на дислокационную люминесценцию кремния, содержащего кислородные преципитаты

Н. А. Соболев, А. Е. Калядин, К. Ф. Штельмах, Е. И. Шек

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Исследована дислокационная люминесценция в не имплантированных и имплантированных ионами кислорода пластинах кремния после многостадийной термообработки, применяемой в микроэлектронике для создания внутреннего геттера, и заключительного отжига при 1000$^\circ$C в хлорсодержащей атмосфере. В не имплантированном образце доминирует линия дислокационной люминесценции D1, а ее интенсивность больше чем на порядок по сравнению с другой линией дислокационной люминесценции D2. С ростом температуры интенсивность D1 линии увеличивается, а затем уменьшается. В имплантированном образце интенсивности D1 и D2 линий увеличиваются. Для обеих линий наблюдается только температурное гашение их интенсивностей. Определены энергии гашения и возгорания интенсивностей линий дислокационной фотолюминесценции. Обсуждаются возможные причины наблюдавшихся эффектов.

Ключевые слова: дислокационная люминесценция, кремний, ионная имплантация, кислородные преципитаты.

Поступила в редакцию: 03.06.2021
Исправленный вариант: 08.06.2021
Принята в печать: 08.06.2021

DOI: 10.21883/FTP.2021.10.51446.9694


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2021, 55:12, 891–894

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024