Эта публикация цитируется в
2 статьях
Поверхность, границы раздела, тонкие пленки
Структурные и электрофизические свойства пленок PbS, легированных Cr$^{3+}$ в процессе химического осаждения
Л. Н. Маскаеваab,
Е. В. Мостовщиковаc,
В. И. Воронинc,
А. В. Поздинa,
И. О. Селянинd,
И. А. Анохинаe,
В. Ф. Марковab a Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б. Н. Ельцина, г. Екатеринбург
b Уральский институт государственной противопожарной службы МЧС России
c Институт физики металлов им. М.Н. Михеева УрО РАН, г. Екатеринбург
d Институт химии твердого тела УрО РАН, г. Екатеринбург
e Институт высокотемпературной электрохимии УРО РАН
Аннотация:
Изучена эволюция морфологии, состава, структурных характеристик (постоянной решетки, микродеформаций, текстурированности), оптических и фотоэлектрических свойств пленок PbS, полученных химическим осаждением в присутствии иодида аммония и хлорида хрома (III) при концентрации до 0.02 моль/л. По данным элементного анализа энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии, содержание хрома в пленках PbS имеет немонотонную зависимость от концентрации CrCl
$_{3}$, и наибольшее количество составляет 1.08 ат.%. Распределение частиц по размерам является мономодальным, а средний размер частиц, формирующих пленки, варьируется от
$\sim$ 100 до
$\sim$ 225 нм при содержании 2–6% наночастиц. Введение в реактор NH
$_{4}$I и СrCl
$_{3}$ сохраняет кубическую B1 структуру сульфида свинца и приводит к увеличению ширины запрещенной зоны
$E_{g}$ на 0.16–0.20 эВ, уменьшению темнового сопротивления
$R_{d}$ и росту вольтовой чувствительности
$U_{s}$. Зависимости
$E_{g}$ и
$U_{s}$ от концентрации соли хрома в реакционной ванне имеют экстремальный характер с максимумом при 0.016 моль/л, что связано с немонотонным вхождением хрома в решетку PbS. Результаты исследований вольт-амперных характеристик тонкопленочных слоев PbS(I) и PbS(I, Cr) хорошо согласуются с результатами структурных, оптических и фоточувствительных свойств.
Ключевые слова:
сульфид свинца, тонкие пленки, хром (III), кристаллическая структура, оптические свойства, фоточувствительность, вольт-амперная характеристика. Поступила в редакцию: 14.05.2021
Исправленный вариант: 25.05.2021
Принята в печать: 25.05.2021
DOI:
10.21883/FTP.2021.10.51448.9680