RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 5, страницы 403–409 (Mi phts5034)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Спектроскопия, взаимодействие с излучениями

Особенности спектров люминесценции ZnSе $\cdot$ О с привлечением теории антипересекающихся зон

В. И. Олешкоa, С. С. Вильчинскаяa, Н. К. Морозоваb

a Национальный исследовательский Томский политехнический университет, 634050 Томск, Россия
b Национальный исследовательский университет «Московский энергетический институт», 111250 Москва, Россия

Аннотация: Представлены исследования на основе теории антипересекающихся зон влияния на спектры излучения структурных особенностей самоактивированного селенида цинка и кристаллов с активаторами. Разрозненность многочисленных литературных данных затрудняет понимание этого вопроса. Теория антипересекающихся зон, которая утвердилась в настоящее время, требует учитывать влияние изоэлектронной примеси кислорода, неизменно присутствующего в решетке ZnSе, на зонную структуру. Совершенствование методов расчета равновесия собственных точечных дефектов предполагает привлечение этих данных при анализе оптических свойств А$^{\mathrm{II}}$В$^{\mathrm{IV}}$, в частности селенида цинка. Цель работы – исследование особенностей и природы полос люминесценции, широко используемых для получения информации о качестве кристаллов. Для этого были исследованы спектры фото-, катодо-, импульсной люминесценции и спектры возбуждения, а также спектры вынужденного свечения ZnSе в едином контексте с привлечением этих особенностей. Выявлены устойчивые состояния кристаллов с дефектами упаковки при введении активаторов или фоновой примеси меди. Результаты представляют интерес для диагностики кристаллов, пригодных для создания лазеров.

Ключевые слова: изоэлектронные центры, активаторы, импульсная катодолюминесценция, вынужденное свечение, комплексы, связанный экситон, дефекты упаковки, мультизона.

Поступила в редакцию: 27.12.2020
Исправленный вариант: 30.12.2020
Принята в печать: 31.12.2020

DOI: 10.21883/FTP.2021.05.50828.9585


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2021, 55:5, 511–517

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024