Аннотация:
Исследовано влияние деионизованной воды и прогрева образцов эпитаксиальных пленок Cd$_{x}$Hg$_{1-x}$Te на их холловские и эллипсометрические параметры. Обработка водой уменьшает показатель преломления естественного окисла Cd$_{x}$Hg$_{1-x}$Te с 2.1 до 1.2–1.4. Это означает, что происходит введение в окисел вещества с малым показателем преломления, таким как вода. Кипячение в воде приводит к образованию в Cd$_{x}$Hg$_{1-x}$Te акцепторов с концентрациями до 10$^{19}$ см$^{-3}$. Изменение кислотности среды от щелочной до кислой замедляет скорость образования акцепторов. Прогрев после выдержки в воде также приводит к образованию акцепторов. Сделано заключение, что вода, в том числе присутствующая в слое естественного окисла, приводит к образованию акцепторов в Cd$_{x}$Hg$_{1-x}$Te. Концентрация акцепторов растет с температурой обработки и количеством доступной воды.