RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 4, страницы 365–372 (Mi phts5059)

Эта публикация цитируется в 6 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Применение метода атомно-слоевого осаждения для получения наноструктурированных покрытий ITO/Al$_{2}$O$_{3}$

Л. К. Марковa, А. С. Павлюченкоa, И. П. Смирноваa, М. В. Мешb, Д. С. Колоколовbc

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
b АО "СКТБ Кольцова", Санкт-Петербург, Россия
c Институт химии Санкт-Петербургского государственного университета, Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: На полученные методом электронно-лучевого испарения наноструктурированные оптически прозрачные и проводящие покрытия из оксида индия + олова методом атомно-слоевого осаждения наносились дополнительные слои Al$_{2}$O$_{3}$ нанометровой толщины. Использовались покрытия из оксида индия + олова, содержащие нитевидные кристаллы преимущественно вертикальной ориентации и обладающие эффективным показателем преломления, монотонно убывающим в направлении, перпендикулярном плоскости подложки. Изучалось влияние толщины наносимого слоя Al$_{2}$O$_{3}$ на оптические характеристики получаемых образцов. Показано, что применение метода атомно-слоевого осаждения позволяет равномерно покрывать защитными оболочками нитевидные кристаллы наноструктурированных пленок из оксида индия + олова большой толщины, в которых верхние нити затеняют нижележащие, что позволит получать более стойкие к воздействию внешней среды просветляющие проводящие покрытия с требуемыми параметрами. При нанесении защитного слоя Al$_{2}$O$_{3}$ сохраняется градиентный характер показателя преломления, присущий исходной пленке ITO.

Ключевые слова: метод атомно-слоевого осаждения, наноструктурированные пленки ITO.

Поступила в редакцию: 11.12.2020
Исправленный вариант: 19.12.2020
Принята в печать: 19.12.2020

DOI: 10.21883/FTP.2021.04.50742.9574


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2021, 55:4, 438–445

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024