RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 3, страницы 269–276 (Mi phts5069)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Физика полупроводниковых приборов

Влияние влажности окружающей среды на электрическую проводимость полиморфных Ga$_{2}$O$_{3}$-структур

А. В. Алмаевa, В. И. Николаевbc, С. И. Степановbc, Н. Н. Яковлевa, А. И. Печниковb, Е. В. Черниковa, Б. О. Кушнаревa

a Национальный исследовательский Томский государственный университет, Томск, Россия
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
c ООО "Совершенные кристаллы", 194064 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Исследовано влияние влажности окружающей среды на электрическую проводимость структур $\alpha$-Ga$_{2}$O$_{3}$ и $\alpha$-Ga$_{2}$O$_{3}$/$\varepsilon$-Ga$_{2}$O$_{3}$. Полиморфные эпитаксиальные слои Ga$_{2}$O$_{3}$ осаждались методом хлоридной газофазной эпитаксии на сапфировые подложки. В качества контактов использовались Pt и Pt/Ti. Обнаружено, что вольт-амперные характеристики структур Pt/$\alpha$-Ga$_{2}$O$_{3}$/Pt и Pt/Ti/$\alpha$-Ga$_{2}$O$_{3}$/$\varepsilon$ -Ga$_{2}$O$_{3}$/Ti/Pt имеют высокую чувствительность к влажности атмосферы в области температур 25–10$^\circ$C. Установлено, что влияние водяных паров на вольт-амперные характеристики является обратимым и наиболее существенные изменения тока в образцах наблюдаются при относительной влажности RH $\ge$ 60%. С повышением температуры эффект влияния влажности атмосферы на вольт-амперные характеристики уменьшается и при температурах $T>$ 100$^\circ$C пропадает. Полученные экспериментальные результаты объясняются в рамках механизма Гротгусса.

Ключевые слова: $\alpha$-Ga$_{2}$O$_{3}$, $\varepsilon$-Ga$_{2}$O$_{3}$, полиморфные эпитаксиальные пленки, хлоридная газофазная эпитаксия, вольт-амперные характеристики, влажность атмосферы.

Поступила в редакцию: 28.10.2020
Исправленный вариант: 03.11.2020
Принята в печать: 03.11.2020

DOI: 10.21883/FTP.2021.03.50606.9546


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2021, 55:3, 346–353

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024