RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 1, страницы 49–58 (Mi phts5096)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Исследование нелегированных нанокристаллических алмазных пленок, выращенных из газовой фазы в плазме СВЧ разряда

А. Л. Вихаревa, С. А. Богдановa, Н. М. Овечкинa, О. А. Ивановa, Д. Б. Радищевa, А. М. Горбачевa, М. А. Лобаевa, А. Я. Вульb, А. Т. Дидейкинb, С. А. Краевa, С. А. Королевa

a Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук, 603950 Нижний Новгород, Россия
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Исследованы нелегированные нанокристаллические алмазные пленки толщиной менее одного мкм, выращенные на кремнии Si(100) методом плазмохимического осаждения из газовой фазы в плазме, поддерживаемой СВЧ излучением на частоте 2.45 ГГц. Для получения алмазных диэлектрических пленок с максимальным удельным сопротивлением было исследовано осаждение пленок в трех газовых смесях: водород-метановой смеси, в водород-метановой смеси с добавкой кислорода и в водород-метановой смеси с добавкой инертного газа. Установлена связь между условиями роста, структурными и электрическими свойствами нанокристаллических алмазных пленок. Показано, что для применения нанокристаллических алмазных пленок в качестве эффективных диэлектриков необходим предварительный высокотемпературный отжиг пленок, например, в вакууме при температуре 600$^\circ$С в течение одного часа.

Ключевые слова: нанокристаллический алмаз, тонкие алмазные пленки, электрические свойства пленок.

Поступила в редакцию: 03.09.2020
Исправленный вариант: 10.09.2020
Принята в печать: 10.09.2020

DOI: 10.21883/FTP.2021.01.50387.9520


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2021, 55:1, 66–75

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024