RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 10, страницы 1035–1040 (Mi phts5135)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Влияние ультрафиолетового излучения и электрического поля на проводимость структур на основе $\alpha$- и $\varepsilon$-Ga$_{2}$O$_{3}$

В. М. Калыгинаa, В. И. Николаевbc, А. В. Алмаевa, А. В. Цымбаловa, В. В. Копьевa, Ю. С. Петроваa, И. А. Печниковc, П. Н. Бутенкоc

a Национальный исследовательский Томский государственный университет
b ООО "Совершенные кристаллы", 194064 Санкт-Петербург, Россия
c Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Рассмотрено влияние ультрафиолетового излучения и сильного электрического поля на проводимость структур на основе двух типов полиморфных пленок оксида галлия. Оба типа пленок Ga$_{2}$O$_{3}$ получены осаждением из газовой фазы методом хлоридной эпитаксии на гладкие и структурированные сапфировые подложки ориентации (0001). В одном и том же процессе на гладких подложках росли $\alpha$-Ga$_{2}$O$_{3}$ пленки, а на структурированных – пленки оксида галлия, с регулярными структурами, перпендикулярными к подложке, содержащими чередующиеся области $\alpha$- и $\varepsilon$-фазы. Резистивные структуры на основе двухфазных пленок обнаруживают переход из состояния с низким сопротивлением в состояние с высоким сопротивлением при воздействии излучения с $\lambda$ = 254 нм и сильного электрического поля. Время формирования отклика на УФ излучение – 5 с, время восстановления меньше 1 с.

Ключевые слова: оксид галлия, HVPE, полиморфизм, ультрафиолет, вольт-амперные характеристики.

Поступила в редакцию: 27.05.2020
Исправленный вариант: 02.06.2020
Принята в печать: 02.06.2020

DOI: 10.21883/FTP.2020.10.49940.9449


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2020, 54:10, 1224–1229

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024