RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 10, страницы 1122–1128 (Mi phts5148)

Эта публикация цитируется в 1 статье

XXIV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Нижний Новгород, 10-13 марта 2020 г.

Особенности МДП-структур на основе изолирующих пленок PbSnTe : In с составом вблизи инверсии зон, обусловленные их сегнетоэлектрическими свойствами

А. Э. Климовab, А. Н. Акимовa, И. О. Ахундовa, В. А. Голяшовac, Д. В. Горшковa, Д. В. Ищенкоa, Е. В. Матюшенкоa, И. Г. Неизвестныйab, Г. Ю. Сидоровa, С. П. Супрунa, А. С. Тарасовa, О. Е. Терещенкоac, В. С. Эповa

a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
b Новосибирский государственный технический университет
c Новосибирский государственный университет

Аннотация: Исследованы характеристики МДП-структур на основе изолирующих пленок PbSnTe : In с составами вблизи инверсии зон, полученных методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Показано, что ряд их особенностей могут быть вызваны сегнетоэлектрическим фазовым переходом с температурой Кюри в области примерно $T\approx$ 15–20 K.

Ключевые слова: твердый раствор PbSnTe : In, эффект поля, МДП-структура, сегнетоэлектрический фазовый переход.

Поступила в редакцию: 15.04.2020
Исправленный вариант: 21.04.2020
Принята в печать: 21.04.2020

DOI: 10.21883/FTP.2020.10.49955.29


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2020, 54:10, 1325–1331

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024