RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 8, страницы 716–719 (Mi phts5186)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Влияние имплантации ионов Al$^{+}$ на состав, электронную и кристаллическую структуру поверхности GaP(111)

С. Б. Донаев, Б. Е. Умирзаков

Ташкентский государственный технический университет

Аннотация: Методом имплантации ионов Al$^{+}$ c $E_{0}$= 1 кэВ разными дозами на поверхности монокристалла GaP(111) получены нанокристаллические фазы и пленки GaAlP, изучены их электронная и кристаллическая структура. Показано, что тип и параметры решетки трехкомпонентной наноструктуры хорошо совпадают с таковыми для подложки. Изучена взаимосвязь между шириной запрещенной зоны $E_{g}$ и размерами нанокристаллических фаз. Установлено, что в случае поверхностных размеров фаз $d$ меньше чем 35–40 нм (толщина 3.5–4 нм), в нанокристаллических фазах Ga$_{0.6}$Al$_{0.4}$P проявляются квантово-размерные эффекты.

Ключевые слова: поверхность, монокристалл, ионная имплантация, нанокристаллическая фаза, ширина запрещенной зоны, квантово-размерный эффект.

Поступила в редакцию: 23.03.2020
Исправленный вариант: 31.03.2020
Принята в печать: 31.03.2020

DOI: 10.21883/FTP.2020.08.49655.9399


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2020, 54:8, 860–862

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024