RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 8, страницы 721–728 (Mi phts5187)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Физика полупроводниковых приборов

О токовой зависимости эффективности инжекции и относительном вкладе скорости эмиссии и внутренних оптических потерь в насыщение ватт-амперной характеристики мощных импульсных лазеров ($\lambda$ = 1.06 мкм)

А. В. Рожков

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Приведены результаты численного моделирования токовой зависимости эффективности инжекции в активную область лазера на основе двойных гетероструктур раздельного ограничения. Показана особенность переноса носителей заряда через изотипные $N$$n$-гетеропереходы на границе волноводных и активной областей. С использованием классических зависимостей теории Друде–Лоренца проведена оценка сечений рассеяния электронов $(\sigma_{e})$ и дырок $(\sigma_{p})$ для GaAs-волновода. Полученные значения $\sigma_{e}$ = 1.05 $\cdot$ 10$^{-18}$ см$^{2}$, $\sigma_{p}$ = 1.55 $\cdot$ 10$^{-19}$ см$^{2}$ и токовые зависимости эффективности инжекции позволили определить ключевую причину ограничения импульсной мощности полупроводниковых лазеров. Установлено, что внутренние оптические потери составляют незначительную долю потерь, а определяющий вклад в насыщение ватт-амперной характеристики дает эмиссия дырок в волновод.

Ключевые слова: термоэлектронная эмиссия, полупроводниковый лазер, изотипный гетеропереход, насыщение ватт-амперной характеристики.

Поступила в редакцию: 05.03.2020
Исправленный вариант: 23.03.2020
Принята в печать: 23.03.2020

DOI: 10.21883/FTP.2020.08.49642.9389


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2020, 54:8, 869–876

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024