RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 8, страницы 743–747 (Mi phts5190)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Влияние температуры формирования на морфологию $por$-Si, получаемого методом Pd-стимулированного химического травления

Г. О. Силаковa, О. В. Воловликоваa, С. А. Гавриловa, А. В. Железняковаa, А. А. Дудинb

a Национальный исследовательский университет "МИЭТ"
b Институт нанотехнологий микроэлектроники РАН, Москва, Россия

Аннотация: Изучен процесс Pd-стимулированного травления кремния в растворе, содержащем HF и H$_{2}$O$_{2}$. Показано влияние на морфологию получаемых слоев таких факторов, как длительность травления и температура раствора. Показано, что в процессе Pd-стимулированного травления наночастицы Pd остаются на стенках и дне пор. Такая структура, как было показано в ранних работах, обладает свойством электроокисления спиртов, что дает основания утверждать: формируемые структуры являются структурами типа структур Шоттки. С помощью диаграммы электрохимического равновесия в системе Si-HF(aq.) определена модель Pd-стимулированного травления. Показано, что происходит полирующее растворение Si без образования промежуточных продуктов (SiO$_{2}$).

Ключевые слова: пористый кремний, металл-стимулированое травление, MACE, наночастицы палладия.

Поступила в редакцию: 05.03.2020
Исправленный вариант: 24.03.2020
Принята в печать: 24.03.2020

DOI: 10.21883/FTP.2020.08.49645.9356


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2020, 54:8, 890–894

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024