RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 8, страницы 801–806 (Mi phts5199)

Эта публикация цитируется в 1 статье

XXIV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Нижний Новгород, 10-13 марта 2020 г.

Формирование углеродных слоев методом термического разложения четыреххлористого углерода в реакторе МОС-гидридной эпитаксии

Б. Н. Звонковa, О. В. Вихроваa, Ю. А. Даниловa, М. В. Дорохинa, П. Б. Деминаa, М. Н. Дроздовb, А. В. Здоровейщевa, Р. Н. Крюковa, А. В. Неждановc, И. Н. Антоновa, С. М. Планкинаc, М. П. Темирязеваd

a Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, г. Нижний Новгород
b Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
c Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского
d Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН

Аннотация: Разработан новый метод осаждения углеродных пленок термическим разложением четыреххлористого углерода (CCl$_{4}$) в потоке водорода в реакторе МОС-гидридной эпитаксии при атмосферном давлении. Результаты исследования методом спектроскопии комбинационного рассеяния света позволяют предположить, что полученные этим методом углеродные слои представляют собой разупорядоченный нанокристаллический графит. Показана возможность использования такого углеродного слоя в технологическом цикле создания арсенид-галлиевых приборных структур оптоэлектроники (в частности, спиновых светоизлучающих диодов с инжектором CoPt).

Ключевые слова: углеродные пленки, МОС-гидридная эпитаксия, GaAs приборные структуры.

Поступила в редакцию: 15.04.2020
Исправленный вариант: 21.04.2020
Принята в печать: 21.04.2020

DOI: 10.21883/FTP.2020.08.49629.05


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2020, 54:8, 956–960

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024