RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 2, страницы 212–216 (Mi phts5289)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Физика полупроводниковых приборов

Сравнительный анализ инжекционных микродисковых лазеров на основе квантовых ям InGaAsN и квантовых точек InAs/InGaAs

Э. И. Моисеевa, М. В. Максимовa, Н. В. Крыжановскаяab, О. И. Симчукa, М. М. Кулагинаc, С. А. Кадинскаяa, M. Guinad, А. Е. Жуковab

a Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет имени Ж. И. Алфёрова Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
c Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
d Tampere University of Technology, Tampere, Finland

Аннотация: Представлены результаты сравнительного анализа спектральных и пороговых характеристик работающих при комнатной температуре инжекционных микродисковых лазеров спектрального диапазона 1.2хх мкм с разной активной областью: квантовые ямы InGaAsN/GaAs или квантовые точки InAs/InGaAs/GaAs. Обнаружено, что микролазеры сравнимого с квантовыми ямами размера обладают большими значениями порога лазерной генерации по сравнению с микролазерами с квантовыми точками. В то же время последние характеризуются заметно меньшей долей излучаемой мощности, приходящейся на лазерные моды. Также для них характерен перескок к генерации через возбужденный оптический переход. Этих недостатков лишены микродисковые лазеры на основе InGaAsN.

Ключевые слова: микролазер, квантовые ямы, квантовые точки, азотсодержащие полупроводники.

Поступила в редакцию: 20.10.2019
Исправленный вариант: 29.10.2019
Принята в печать: 29.10.2019

DOI: 10.21883/FTP.2020.02.48907.9290


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2020, 54:2, 263–267

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024