RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 1, страницы 74–78 (Mi phts5310)

Физика полупроводниковых приборов

Температурная зависимость потерь в механическом резонаторе, изготовленном методом прямого сращивания кремниевых пластин

Л. Г. Прохоровa, А. В. Светаевa, Б. С. Лунинb, Н. Р. Запотылькоc, А. А. Катковc, В. П. Митрофановa

a Физический факультет, Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова
b Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, химический факультет
c Научно-исследовательский институт "Полюс" им. М. Ф. Стельмаха, г. Москва

Аннотация: Охлаждение устройств, изготовленных из монокристаллического кремния, до температуры 123 K, при которой значение его коэффициента теплового расширения проходит через нуль, позволяет повысить их стабильность и снизить шумы. В диапазоне температур (100–295 K) исследованы температурные зависимости потерь (затухания) и изменения резонансной частоты в механическом резонаторе камертонного типа, изготовленном из кремниевых полосок и соединенных методом прямого сращивания. Это позволяет неразрушающим образом контролировать качество соединения, а также выявить особенности поведения и изменения, происходящие на границе раздела с течением времени.

Ключевые слова: кремниевая пластина, прямое сращивание, механический резонатор, нулевое значение коэффициента линейного теплового расширения.

Поступила в редакцию: 19.08.2019
Исправленный вариант: 05.09.2019
Принята в печать: 10.09.2019

DOI: 10.21883/FTP.2020.01.48778.9245


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2020, 54:1, 117–121

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024