RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 11, страницы 1455–1458 (Mi phts5348)

Эта публикация цитируется в 7 статьях

Неэлектронные свойства полупроводников (атомная структура, диффузия)

Влияют ли химические эффекты на накопление структурных нарушений при имплантации в GaN ионов фтора?

А. И. Титов, К. В. Карабешкин, П. А. Карасев, А. И. Стручков

Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого

Аннотация: Исследовано накопление структурных повреждений в GaN при облучении ускоренными ионами F и Ne с энергиями 1.3 и 3.2 кэВ/а.е.м. Показано, что в рамках рассматриваемых доз химические эффекты при внедрении ионов фтора не оказывают существенного влияния на образование устойчивых структурных повреждений как в объеме, так и на поверхности GaN.

Ключевые слова: GaN, ионное облучение, инженерия дефектов, химические эффекты.

Поступила в редакцию: 22.04.2019
Исправленный вариант: 28.04.2019
Принята в печать: 28.04.2019

DOI: 10.21883/FTP.2019.11.48439.9145


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2019, 53:11, 1415–1418

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024