RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 10, страницы 1395–1400 (Mi phts5385)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

XXIII Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'', Нижний Новгород, 11–14 марта 2019 г.

Излучательные свойства сильно легированных эпитаксиальных слоев нитрида индия

Б. А. Андреевa, Д. Н. Лобановa, Л. В. Красильниковаa, П. А. Бушуйкинa, А. Н. Яблонскийa, А. В. Новиковa, В. Ю. Давыдовb, П. А. Юнинa, М. И. Калинниковa, Е. В. Скороходовa, З. Ф. Красильникac

a Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского

Аннотация: Представлены результаты исследований спектров спонтанной фотолюминесценции и стимулированной эмиссии в эпитаксиальных слоях $n$-InN с концентрацией свободных электронов $\sim$10$^{19}$ см$^{-3}$, выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота на сапфировых подложках с буферными слоями AlN и GaN. При росте InN в условиях обогащения азотом при повышении температуры роста до 470$^\circ$C, близкой к началу разложения InN, наблюдалось улучшение кристаллического качества слоев и снижение порога возникновения стимулированного излучения. При переходе к условиям роста с обогащением металлом в спектрах спонтанной фотолюминесценции InN наблюдались две полосы эмиссии, разделенные интервалом в 100 мэВ. Для таких слоев отмечены значительное увеличение порога возникновения стимулированной эмиссии и в ряде случаев отсутствие перехода к ней. В работе приводится интерпретация наблюдаемых полос эмиссии и высказываются предположения об их природе.

Ключевые слова: нитрид индия, молекулярно-пучковая эпитаксия, фотолюминесценция, стимулированное излучение.

Поступила в редакцию: 24.04.2019
Исправленный вариант: 29.04.2019
Принята в печать: 29.04.2019

DOI: 10.21883/FTP.2019.10.48296.42


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2019, 53:10, 1357–1362

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024