RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 9, страницы 1297–1302 (Mi phts5421)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

XXIII Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'', Нижний Новгород, 11–14 марта 2019 г.

Эволюция примесной фотопроводимости в эпитаксиальных пленках CdHgTe при изменении температуры

Т. А. Уаман Светиковаa, А. В. Иконниковa, В. В. Румянцевb, Д. В. Козловb, В. И. Черничкинa, А. В. Галееваa, В. С. Варавинc, Н. Н. Михайловc, С. А. Дворецкийc, С. В. Морозовb, В. И. Гавриленкоb

a Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
b Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
c Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск

Аннотация: В эпитаксиальных пленках CdHgTe исследованы спектры фотопроводимости при различных температурах методом фурье-спектроскопии. В спектрах обнаружены особенности, связанные как с межзонным поглощением, там и с ионизацией примесно-дефектных состояний. Прослежена их эволюция с изменением температуры. Определены температуры “исчезновения” примесных особенностей, что позволило, используя уравнение электронейтральности, оценить концентрацию акцепторов в исследуемых структурах.

Ключевые слова: фотопроводимость, примесь, CdHgTe, фурье-спектроскопия.

Поступила в редакцию: 24.04.2019
Исправленный вариант: 29.04.2019
Принята в печать: 29.04.2019

DOI: 10.21883/FTP.2019.09.48143.27


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2019, 53:9, 1266–1271

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024