RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 9, страницы 1303–1308 (Mi phts5422)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

XXIII Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'', Нижний Новгород, 11–14 марта 2019 г.

Особенности спектров примесной фотопроводимости эпитаксиальных пленок PbSnTe(In) при изменении температуры

А. В. Иконниковa, В. И. Черничкинa, В. С. Дудинa, Д. А. Акопянa, А. Н. Акимовb, А. Э. Климовbc, О. Е. Терещенкоbd, Л. И. Рябоваa, Д. Р. Хохловae

a Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
b Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
c Новосибирский государственный технический университет
d Новосибирский государственный университет
e Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, г. Москва

Аннотация: Спектры фотопроводимости эпитаксиальных пленок PbSnTe(In) исследованы методом фурье-спектроскопии в области дальнего инфракрасного диапазона при температурах от 4.2 до 32.4 K. Наряду с межзонными переходами в спектрах обнаружены субщелевые особенности, связанные с возбуждением примесно-дефектных состояний. Прослежена эволюция спектров при изменении температуры и в условиях дополнительной подсветки.

Ключевые слова: фотопроводимость, примесные состояния, поверхностные состояния, PbSnTe, эффект Бурштейна–Мосса.

Поступила в редакцию: 24.04.2019
Исправленный вариант: 29.04.2019
Принята в печать: 29.04.2019

DOI: 10.21883/FTP.2019.09.48144.28


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2019, 53:9, 1272–1277

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024