Эта публикация цитируется в
19 статьях
Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники
Размерная зависимость температуры плавления наночастиц кремния: молекулярно-динамическое и термодинамическое моделирование
И. В. Талызин,
М. В. Самсонов,
В. М. Самсонов,
М. Ю. Пушкарь,
В. В. Дронников Тверской государственный университет
Аннотация:
Размерная зависимость температуры плавления наночастиц Si исследовалась с использованием как молекулярно-динамического, так и термодинамического моделирования, основывающегося на применении формулы Томсона. Результаты атомистического моделирования, полученные с использованием потенциала Стиллинджера-Вебера, согласуются с результатами других авторов, а также с результатами термодинамического моделирования и предсказывают уменьшение температуры плавления
$T_{m}$ наночастиц Si с увеличением их обратного радиуса
$R^{-1}$ по линейному закону. Имеющиеся экспериментальные данные предсказывают более низкие значения
$T_{m}$, включая предельное значение
$T_{m}^{(\infty)}$, отвечающее линейной экстраполяции экспериментальных точек к
$R^{-1}\to0$ (т. е. к радиусу
$R\to\infty$), причем занижение составляет 200–300 K по сравнению с табличным значением температуры плавления кремния (1688 K). Учитывая это, сделан вывод о том, что молекулярно-динамические результаты для
$T_{m}(R^{-1})$, полученные с использованием потенциала Стиллинджера–Вебера, являются более адекватными, чем имеющиеся экспериментальные данные.
Ключевые слова:
нанокремний, температура плавления, размерная зависимость, молекулярная динамика, термическое моделирование. Поступила в редакцию: 05.06.2018
Исправленный вариант: 27.02.2019
Принята в печать: 28.02.2019
DOI:
10.21883/FTP.2019.07.47875.8927