Термоэдс тонких пленок Bi$_{1-x}$Sb$_{x}$ (0 $\le x\le$ 0.15) на подложках из слюды и полиимида в температурном интервале 77–300 K

Представлены результаты исследования термоэдс тонких блочных пленок Bi$_{1-x}$Sb$_{x}$ (0 $\le x\le$ 0.15) толщиной 100–1000 нм на подложках из слюды и полиимида в интервале температуры 77–300 K. При измерении термоэдс использован метод, исключающий искажение деформации в системе пленка-подложка. Проведен анализ структуры, температурных зависимостей термоэдс и удельного сопротивления тонких пленок, проведена оценка фактора мощности. Обнаружено различие характера температурных зависимостей термоэдс и удельного сопротивления пленок на подложках из слюды и полиимида. Обнаруженное различие объясняется изменением параметров зонной структуры под воздействием деформации, возникающей в системе пленка-подложка вследствие различия температурного расширения материалов пленки и подложки.