RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 5, страницы 718–723 (Mi phts5526)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Аморфные, стеклообразные, органические полупроводники

Антиструктурные дефекты в полупроводниковых стеклах Ge–Te и Ge–As–Te

А. В. Марченкоa, П. П. Серегинa, Е. И. Теруковb, К. Б. Шаховичa

a Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)

Аннотация: Методом эмиссионной мессбауэровской спектроскопии на изотопах $^{119mm}$Sn($^{119m}$Sn), $^{119m}$Te($^{119m}$Sn), $^{125}$Sn($^{125}$Te) и $^{125m}$Te($^{125}$Te) продемонстрировано образование антиструктурных дефектов в стеклообразных сплавах Ge$_{20}$Te$_{80}$ и Ge$_{15}$As$_{4}$Te$_{81}$ в виде атомов олова в узлах теллура и атомов теллура в узлах германия. Показано, что изовалентное замещение атомов германия атомами олова не изменяет симметрию локального окружения узлов германия, тогда как атомы олова и теллура в несвойственных для них позициях перестраивают свое локальное окружение.

Поступила в редакцию: 27.11.2018
Исправленный вариант: 03.12.2018
Принята в печать: 10.12.2018

DOI: 10.21883/FTP.2019.05.47570.9032


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2019, 53:5, 711–716

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024