RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 2, страницы 165–168 (Mi phts5581)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Спектроскопия, взаимодействие с излучениями

Дислокационная фотолюминесценция в кремнии, имплантированном ионами германия

Н. А. Соболевa, А. Е. Калядинa, В. И. Сахаровa, И. Т. Серенковa, Е. И. Шекa, Е. О. Паршинb, Н. С. Мелесовb, С. Г. Симакинb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Ярославский филиал Федерального государственного бюджетного учреждения науки Физико-технологического института РАН

Аннотация: Исследовано влияние условий постимплантационного отжига кремния, имплантированного ионами германия, на образование люминесцентных центров. Измерения с помощью метода обратного резерфордовского рассеяния ионов средней и высокой энергий показали, что имплантация ионами германия с энергией 1 МэВ и дозой 1.5 $\cdot$ 10$^{14}$ см$^{-2}$ не приводит к аморфизации монокристаллического кремния. Обнаружено, что последующий высокотемпературный отжиг имплантированных образцов в хлорсодержащей атмосфере при 1100$^\circ$С в течение 0.5–1.5 ч приводит к образованию так называемых D1 и D2 линий дислокационной люминесценции с длинами волн 1.54 и 1.42 мкм. При увеличении времени отжига интенсивность линии D1 уменьшается, а D2 – остается постоянной, но во всех спектрах доминирует D1 линия. Обсуждаются возможные факторы, приводящие к снижению интенсивности D1 линии, в частности диффузия атомов германия и образование твердого раствора кремний-германий.

Поступила в редакцию: 25.07.2018
Исправленный вариант: 13.08.2018

DOI: 10.21883/FTP.2019.02.47093.8965


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2019, 53:2, 156–159

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024