RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 2, страницы 241–245 (Mi phts5594)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Физика полупроводниковых приборов

Особенности МДП-структур с фторидом самария на кремниевых и германиевых подложках

М. Б. Шалимова, Н. В. Сачук

Самарский национальный исследовательский университет

Аннотация: Электрофизические характеристики кремниевых и германиевых МДП-структур с диэлектрической пленкой SmF$_{3}$, а также их деградация в результате воздействия электрических полей хотя и подобны, но имеют ряд особенностей. Механизм токопрохождения во всех исследованных структурах описывается степенной зависимостью. Интерфейсные ловушки создают заряд электрически активных ловушек, который изменяется при вольт-емкостных измерениях, и заряд неактивных ловушек, который остается неизменным. На поверхности $n$-Ge этот заряд отрицательный, на поверхности кремния $n$- и $p$-типа соответствующий заряд положительный. Плотность заряда ловушек в объеме фторида самария лежала в интервале от -0.2 $\cdot$ 10$^{-8}$ до 0.6 $\cdot$ 10$^{-8}$ K/см$^{2}$ и в большинстве случаев была пренебрежимо мала по сравнению с зарядом интерфейсных ловушек.

Поступила в редакцию: 26.03.2018
Исправленный вариант: 10.05.2018

DOI: 10.21883/FTP.2019.02.47106.8873


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2019, 53:2, 229–233

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024