RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 2, страницы 267–272 (Mi phts5599)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Влияние температуры фотонного отжига на структурные и оптические свойства пленок ZnO, синтезированных методом дуального магнетронного распыления

С. В. Зайцев, В. С. Ващилин, В. В. Колесник, М. В. Лимаренко, Д. С. Прохоренков, Е. И. Евтушенко

Белгородский государственный технологический университет имени В. Г. Шухова

Аннотация: Пленки ZnO толщиной 1.4 мкм осаждали на стеклянные подложки методом дуального магнетронного распыления мишеней Zn в газовой среде аргона и кислорода. Проведены исследования зависимости структурных и оптических характеристик пленок ZnO от температуры фотонного отжига после осаждения. Установлено что, повышение температуры отжига приводит к повышению степени кристалличности пленок. Электронная микроскопия показала, что осажденное покрытие ZnO имеет столбчатую структуру, причем отжиг увеличивает плотность микроструктуры и размер кристаллита. Обнаружено, что при температуре отжига 450–650$^\circ$C коэффициент оптического пропускания увеличился до значения $>$ 90% в спектральной области 400–1100 нм. Экспериментальные результаты показывают, что температура фотонного отжига в вакууме оказывает наибольшее влияние на конечные свойства покрытий ZnO.

Поступила в редакцию: 13.06.2018
Исправленный вариант: 06.07.2018

DOI: 10.21883/FTP.2019.02.47111.8933


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2019, 53:2, 255–259

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024