RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 1, страницы 65–69 (Mi phts5613)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Энергия связи пластин кремния и сапфира при повышенных температурах соединения

И. Е. Тысченко, Э. Д. Жанаев, В. П. Попов

Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск

Аннотация: Изучены гидрофильность поверхности и энергия связи пластин кремния и сапфира при температуре соединения 50$^\circ$C. Установлено, что нагрев пластин Si и Al$_{2}$O$_{3}$ до 50$^\circ$C сопровождается ростом степени гидрофильности их поверхностей. Эффект объясняется улучшением степени чистоты поверхности за счет десорбции примесных атомов в вакуум и увеличением плотности оборванных связей. Обнаружен рост энергии связи пластин кремния и сапфира при температуре соединения 50$^\circ$C и последующем нагреве в интервале 100–250$^\circ$C по сравнению с ее значениями при соединении при комнатной температуре. Определена энергия активации роста энергии связи, которая составила 0.57 эВ.

Поступила в редакцию: 19.03.2018
Исправленный вариант: 29.03.2018

DOI: 10.21883/FTP.2019.01.46989.8867


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2019, 53:1, 60–64

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024