RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 1, страницы 132–136 (Mi phts5624)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Осаждение пленок кремния, легированных бором и фосфором газоструйным плазмохимическим методом

В. Г. Щукин, Р. Г. Шарафутдинов, В. О. Константинов

Институт теплофизики им. С.С. Кутателадзе Сибирского отделения Российской академии наук

Аннотация: С использованием диборана и фосфина в качестве легирующих газов методом газоструйного плазмохимического осаждения с применением электронного пучка были получены легированные пленки кремния. Исследовано влияние концентрации легирующего газа, добавки фторсодержащего газа и фонового давления на проводимость и кристаллическую структуру кремниевых слоев. Получены легированные бором аморфные пленки ($\alpha$-Si:H) с проводимостью до 5.2 $\cdot$ 10$^{-3}$ (Ом $\cdot$ см)$^{-1}$, при легировании фосфором получены микрокристаллические пленки кремния ($mc$-Si:H), имеющие кристалличность до 70% и значения проводимости на уровне 1 (Ом $\cdot$ см)$^{-1}$.

Поступила в редакцию: 22.05.2018
Исправленный вариант: 25.06.2018


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2019, 53:1, 127–131

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024